Transmissioonelektronmikroskoop

Allikas: Vikipeedia
TEM pilt polioviirusest. Selle lastehalvatust põhjustava viiruse partiklite läbimõõt on 30 nm.

Transmissiooni- ehk läbivkiirguse elektronmikroskoop (Transmission electron microscope, TEM) on mikroskoop, mis võimaldab kujutise saamist tänu uuritavat proovi läbivale elektronide voole. Üliõhukest lõiku läbivad elektronid interakteeruvad viimasega, tekib kujutis, mida fokuseeritakse ja suurendatakse ning projitseeritakse fluorestseeruvale ekraanile, fotoplaadile või digitaalse kaamera sensorile.

TEM võimaldab saavutada oluliselt tugevamat suurendust kui valgusmikroskoobid tulenevalt elektronide väikesest lainepikkusest. Tänu sellele on võimalik uurida isegi aatomite paiknemist aines, mis oleks valgusmikroskoobiga mõeldamatu. See on muutnud TEM-i üheks vägagi oluliseks analüüsivahendiks nii bioloogias kui ka materjalide uurimisega tegelevates füüsika harudes, kuna selle poolt pakutavate suurenduste abil on võimalik ühtviisi edukalt näha nii viiruseid kui ka materjalide peenstruktuure.

Esimese transmissioonelektronmikroskoobi konstrueerisid Max Knoll ja Ernst Ruska 1931. aastal. 1933 ületati valgusmikroskoobiga saavutatav võimalik lahutuvus ja 1939 jõudsid nad esimese tööstuslikult tootetava TEM-i ehitamiseni.

TEM-i põhjal on välja arendatud ka mitmeid täiendavaid tehnikaid (STEM, HRTEM jt.), mille abil on võimalikuks saanud tehnika veelgi mitmekülgsem kasutamine ning struktuuride uurimine, mida teistel viisidel ei ole mingit pidi teostada võimalik.

Ajalugu[muuda | redigeeri lähteteksti]

Esimene praktiline TEM, mis paikes algselt I. G Farben-Werkes ja mida nüüd eksponeeritakse Deutsches Museumis Münchenis.

Algne arendustegevus[muuda | redigeeri lähteteksti]

Ernst Abbe käis välja teooria, et mikroskoopide lahutusvõime on piiratud objekti vaatlemiseks kasutatava valguse lainepikkusega. Selle tõttu ei ole valgusmikroskoopidega võimalik saada mõnest mikromeetrist suuremat suurendust. Arengud ultraviolettkiirgust kasutavate mikroskoopide juures, mille taga seisis August Köhler, lubasid saavutada veel kuni kaks korda paremat suurendust. Samas nõudis see aga ka klaasist kallima kvartsi kasutamist, kuna UV-kiirgus klaasis neeldub. Tollel ajal levis arvamus, et mikromeetrist väiksemate suurusjärkude poole püüdlemine on lainepikkuse poolt seatud piirangute tõttu lihtsalt võimatu.[1]

Juba 1858. aastal oli Julius Plückeri poolt kindlaks tehtud, et "katoodkiirte" (elektronide) suunamiseks saab kasutada magneteid.[2] Seda efekti oli 1897. aastal Ferdinand Brauni poolt rakendanud primitiivsete ostsilloskoopide (täpsemalt katoodkiirte ostsilloskoopide (Cathode-ray oscilloscope; CRO)) ehitamiseks[3].

Samuti oli juba varemalt kinnitust leidnud, et katoodkiiri saab magnetvälju kasutades fokuseerida justnagu läätsede abil on võimalik fokuseerida valgust ning hiljem arendas seda teooriat edasi Hans Busch, kes näitas, et läätsevalmistajate kasutatav võrrand on kohandatav ka elektronidele.[4] 1927 tõestasid Clinton Davisson ja Lester Germer eksperimentaalselt, et elektronidel on laineline iseloom ja et suurema energiaga elektronidel on lühem lainepikkus kui väiksema energiaga elektronidel[5].

Berliinis õppis Ruska Adolf Matthiase käe all kõrgepinge tehnoloogiaid ja nende rakendusi elektrijaamades. Kui 1928. aastal pani Berliini Tehnikaülikooli professor Adolf Matthias eesotsas Max Knolliga kokku meeskonna teadlastest, kes hakkaksid uurima oskilloskoopide täiustamise võimalusi, siis kuulusid sellesse rühma ka mitmed doktoriõppe üliõpilased, kelle hulgas olid ka Ernst Ruska ja Bodo von Borries. Eesmärgiks välja arendada oskilloskoope, mida saaks kasutada väga kiirete elektriliste protsesside registreerimiseks elektrijaamades ja kõrgepingeliinides. Keskenduti peamiselt elektronkiirte parema fokuseerimise saavutamisele ning seda tänu läätsede ehituse parandamisele ning nõnda püüti leida sobilikke parameetrid, mida optimaliseerides saaks luua paremaid oskilloskoope.[4]

Oma viimasel ülikooliaastal esitas Ruska 1929. aasta mais oma väitekirja, milles ta rehkendas ning testis elektronläätsede abil suurenduste saavutamist. Nõnda õnnestus tal kätte saada esimene teadaolev elektronmikroskoobi abil saadud pilt – anoodi apertuurist katoodkiirte torus. Toimiva elektronmikroskoobi ehitamiseni läks aga veel hulk aega. Valgusmikroskoobi eeskujul loodud ja kahe järjestiku paikneva elektronläätsega valmistatud mikroskoop, mis tõestas, et ka magnetväljade abil suunatud elektronidega on võimalik suurendus saada, suutis pakkuda ainult tagasihoidlikku 15 kordset suurendust. Elektronide poolt eralduv soojus oli aga nii tugev, et põletas läbi kõik objektid, mida uurida püüti.[4]

Arendustööd jätkati ja 1931. aastal suutis nimetatud grupp teadasi oma loodud mikroskoobiga edukalt kätte saada suurenduse vaskvõrgule asetatud lõigust. Ruska ja Knoll võtsid kasutusele mõiste "elektronmikroskoop"[6] ja seda aparaati, mis kasutas elektrone ja nende fokuseerimiseks kahte elektromagnetilist läätse on üldiselt on tunnustatud kui esimest transmissioonelektronmikroskoopi. Samal aastal patenteeris Reinhold Rudenberg, kes oli Siemensi teadusdirektor, elektronmikroskoobi elektronstaatilised läätsed.[7][1]

Eraldusvõime parandamine[muuda | redigeeri lähteteksti]

Tollel ajal alles hakati jõudma nii kaugele, et mõista elektronide laineomadusi. 1927 avaldas Louis de Broglie oma kvantfüüsika alase töö, kus selgitas aineosakeste laineomadusi[8] (Nobeli preemia 1929). Ruska grupp ei olnud sellest siiski teadlik kuni 1932. aastani, mil leiti selle põhjal, et elektronide oluliselt väiksem lainepikkus võrreldes footonitega peaks teoreetiliselt lubama kuni aatomisuuruste objektide eristamist. Sama aasta aprillis pakkus Ruska välja uue elektronmikroskoobi konstruktsiooni, mis võimaldaks proovide sisestamist mikroskoopi endasse. Uue seadmega õnnestus jagu saada difraktsioonist ja saada rahuldav suurendus alumiiniumlehest kuid valgusmikroskoobi poolt pakutavate suurenduste ületamisega siiski veel toime ei tuldud. Selleni jõuti alles 1933. aasta septembris, kasutades puuvilla kiude, mida pildistati kiirelt enne kui nad elektronkiirguse poolt püsivalt kahjustatud said.[1]

1934 sai Ladislaus Marton esimese mikrofoto bioloogilisest objektist ning kolm aastat hiljem ka esimesed elektronmikroskoopilised kujutised bakteritest.[6]

Kuna kõrgkooli instituudil puudusid vajalikud vahendid, et tegelda elektronmikroskoopide edasiarendamisega, läks Ruska tööle elektronoptika tööstusesse. Ta töötas 1933–1937 Fernseh Ltd’s Steglitz-Zehlendorfis Berliinis, kus tegutses televisiooni vastuvõtjate ja transmitterite kallal ning sekundaarse võimendusega fotoelementide arendamise juures. Huvi aga jätkata kõrgresolutsioonilist lahutuvust võimaldavate elektronmikroskoopide arendamist viis ta koostöös Bodo von Borries'ega 1936–1937 Siemens & Halske'esse. 1937 seati Berliini Spandau linnaossa sisse elektronoptika labor, kus tegeldi arendustööga kuni 1939. aastani, mil saadi ühele poole esimese tööstuslikult toodetava ning teaduse vajadustele vastavate elektronmikroskoobiga (pildil). Alustati tööstuslikku tootmist ning mikroskoope nimetati kui Siemensi Super Mikroskoopideks. Ernst Ruska vend, meditsiinidoktor Helmut Ruska, töötas samal ajal koos kolleegidega välja kasutusalasid meditsiinis ning bioloogias. Edasist tööd takistas aga Teise maailmasõja algus ning labori häving õhurünnaku tagajärjel.[9]

Samal ajal tegelesid elektronmikroskoopide arendamisega ka Albert Prebus ja James Hillier Toronto Ülikoolis ning panid 1938. aastal kokku esimese TEM-i Põhja-Ameerikas. 1940 suundus Hillier tööle ettevõttesse Radio Corporation of American (RCA), kus kõrvuti paljude firma arendustegevuses olevate harudega asuti tegelema ka elektronmikroskoopidega ja kus tema nimele sai registreeritud üle neljakümne patendi.[10]

Edasine arendustegevus[muuda | redigeeri lähteteksti]

TEM Saksamaal. Pildistatud kuskil 1976–80.

Pärast teist maailmasõda jätkas Ruska oma tööd Siemensis elektronmikroskoopide arendamise osas ning konstrueeris esimese mikroskoobi, millega on saavutatud 100 000 kordne suurendus[4]. Tollal väljakujunenud alusstruktuur elektronmikroskoobi ehituses on jäänud suures osas tänapäevani muutumatuks. Elektonmikroskoopiaalase tootmise ja arendustegevuse etteotsa tõusid Manchester Suurbritannias, Siemens Saksamaal, RCA Ameerika Ühendriikides ning Jaapan.

Esimene rahvusvaheline elektronmikroskoopiaalane konverents peeti Delftis 1942. aastal ning sealt võttis osa üle saja osavõtja.[11] Hilisem ja esimeseks ametlikuks ning rahvusvaheliseks nimetatud konverents toimus 1950 Pariisis ning järgmine 1954 Londonis.

TEM-i kõrvalt tehti tutvust ka skaneeriva transmissioonelektronmikroskoopiaga (STEM), kuid see arendati kasutuskõlbulikuks alles 1970ndatel kui Albert Crewe Chicago Ülikoolist ehitas valmis uudse väljaemissiooni kahuri[12] ja tõi mängu uued kõrgekvaliteedilised objektiivid, mis võimaldasid moodsa STEM-i konstrueerimist. Selle abil demonstreeris Crewe, et nõnda saab pildile püüda isegi üksikuid aatomeid kasutades rõngakujulise tumevälja kujutisi (annular dark-field imaging; ADF). Crewe arendas koos oma kaastöölistega välja külma väljaemissiooni (field emission) allika ja pani kokku STEM-i, mille abil suudeti visualiseerida üksikuid raskeid aatomeid õhukestes süsinikusubstraatides.[13]

Taustainfo[muuda | redigeeri lähteteksti]

TEM-i ehitus

Elektronid[muuda | redigeeri lähteteksti]

Teoreetiliselt on valgusmikroskoobi maksimaalne võimalik lahutavus (d) määratud valgusosakeste lainepikkusega (λ) ja numbrilise apertuuriga (NA).

 d=\frac{\lambda}{2\,n\,\sin\alpha} \approx \frac{\lambda}{2\,\textrm{NA}}

Optika[muuda | redigeeri lähteteksti]

Ekraan[muuda | redigeeri lähteteksti]

Kuna elektronide voogu ei ole võimalik otse palja silmaga vaadata, siis tekitatakse kujutis fluorestseeruvale ekraanile, mis on valmistatud 10–100 μm läbimõõduga tsinksulfaadi osakestest. Ekraani saab vaadata läbi spetsiaalse klaasiga kaetud akna, mille ees kasutatakse vaadeldavast täiendava suurenduse saavutamiseks veel ettelükatavat binokulaari. Ekraani all paikneb kas foto- või digikaamera kujutise jäädvustamiseks ja kuhu elektronkiirgus pääseb ekraani eesttõstmisel.

Komponendid[muuda | redigeeri lähteteksti]

Simens numeri.jpg

Vaakumsüsteem[muuda | redigeeri lähteteksti]

Suurendamaks elektronide poolt läbitava vaba tee pikkust on elektronmikoskoopides vaakum – rõhk on viidud tavaliselt nõnda madalale nagu 10−4 paskalit[14]. Seda on vaja kahel põhjusel: esitaks aitab see ära hoida kaarlaengu katoodi ja anoodi vahel ning teiseks vähendab see võimalust, et elektronid võiksid kokku põrgata gaasi aatomitega (seda kokkupõrgete sagedust kirjeldabki mõiste elektronide vaba tee pikkus).

Kuna uuritavate proovide TEM-i lisamiseks peab objektihoidja olema eemaldatav ja vanematel TEM-idel olevad fotojäädvustussüsteemid eeldavad fotoplaatide väljavahetamist ning paratamatult vajab sellise mikroskoobi katood aeg ajalt asendamist uuega, ei ole transmissioonelektronmikroskoobi puhul tegemist püsivalt vaakumisse suletud süsteemiga – selle külge on ühendatud pumbad ja kompressor vaakumi tekitamiseks ning hoidmiseks ja eemaldatavate osade juures paiknevad õhulukud.

Võrk ja objektihoidja[muuda | redigeeri lähteteksti]

TEM proovi toetav "võrk", millele kantakse ultramikrotoomiga lõigatud lõik

Kui valgusmikroskoopias kasutatakse uuritava materjali alusena klaasplaate siis elektronmikroskoopias see võimalik ei ole. Proovide tarvis on siin kasutusel vastavad "võrgud", mida valmistatakse enamasti mittemagnetiseeruvatest metallidest nagu näiteks vask, kuld ja plaatina, millele pole probleemiks eemale juhtida elektronidega pommitamisel tekkivat soojust ning elektrostaatilist laengut.

Nimetatutest odavaim on vask, mis on selliste võrkude materjalina ka kõige populaarsem. Kui aga võrgul oleks tarvis läbi viia veel mingeid täiendavaid keemilisi reaktsioone siis tuleks kasutada inertsemaid aluseid nagu juba mainitud kuld ja plaatina või hoopis molübdeen või vanaadium. Odavuse tõttu leiavad kasutamist ka roostevaba teras ja nikkel, kuid need metallid tuleb eelnevat demagnetiseerida.

Üheks võrkusid iseloomustavaks suuruseks on mesh, mis mõõtühikuna näitab silmade arvuga tolli kohta. Antud juhul on see enamasti 150–300. Seejuures varjavad suuremate silmadega võrgud vähem proovi aga väiksemasilmalised toetavad seda paremini. On kasutusel palju erinevaid võrkude tüüpe, mille materjal ja konstruktsioon sõltuvad eelkõige sellest, mida nendega uuritakse. Levinud on isegi võrgusuurused metallist alused, kus keskosa on kaetud spetsiaalse kilega (formvar, kolloodion), millele lõik toetub ja kus seega puuduvad uuritavaid struktuure varjata võivad metallosad. Seerialõikude meetodi kasutamisel on sellised alused aga lausa asendamatud.

Võrkude standardne läbimõõt on 3,05 mm, mille järgi on kohandatud ka proovide hoidmiseks kasutavad objektihoidjad. Vahel leiavad kasutust ka 2,3 mm võrgud aga seda pigem mineraloogias, kus mineraalide uurimisel võib tarvis minna suurema kaldenurga rakendamist ning kus kasutatavad materjalid võivad olla äärmiselt haruldased.

TEM-i sisestatud proovi on samuti võimalik vaatlusel liigutada, et leida ja paremini vaadelda huvipakkuvaid piirkondi, ning seda saab teha nii laiust kui ka pikkust pidi. Samuti võib olla võimalik liigutada proovi ka kõrguse osas ning kallutada seda mõne kraadi võrra. Selle mehhanismi keerukusest peaks aimu andma asjaolu, et isegi kõrgematel suurendustel peab proov liikuma võimalikult sujuvalt ning seda situatsioonis kus vahemaid soovitavasse suunda on võimalik mõõta mikromeetrites.

TEM-Single-tilt.svg

Elektronkiirte kahur[muuda | redigeeri lähteteksti]

Elektronläätsed[muuda | redigeeri lähteteksti]

TEM-is ei saa kasutada klaasist või kvartsist läätsi, kuna need neelaksid elektrone. Küll saab aga elektronkiirt mõjutada magnetväljaga kuna elektronide näol on tegu laetud osakestega.

TEM-i kolonni on paigutatud mitmed elektromagnetilised läätsed ehk elektronläätsed: kondensorläätsed, objektiivlääts, vahelääts ja projektorlääts, ning nad on loodud töötama sarnasel põhimõttel nagu optilised läätsed, et nad fokusseeriksid paralleelsed kiired mingile kindlale punktile optilisel teljel. Seega vastavalt vajadusel nad kas koondavad või hoopis hajutavad elektonmikroskoobi kolonni läbivat elektronkiirt.

Suurem osa TEM-ides kasutatavatest elektronläätsedest koosneb elektrit läbilaskvatest keerdudest ehk poolidest, milles tekib elektri toimel magnetväli, mis paneb nad tööle kui kumerad läätsed. Tekitatav magnetväli peab olema radiaalselt sümmeetriline, kuna kõrvalekalded sellest põhjustavad aberatsioone nagu astigmatism, mis süvenevad veelgi sfäärilise ja kromaatilise aberatsiooni mõjul.

Muutes voolu parameetreid on võimalik saavutada lõplik suurendus ja lahutusvõime. Objekti teravustamine viiakse läbi voolutugevuse muutmisega objektiivläätse poolis ja suurendust saab muuta voolutugevuse muutmisega projektorläätse poolis.

Elektronläätsi valmistatakse rauast, raua-koobalti või nikli-koobalti sulamitest[15] nagu permalloi. Need on valitud nende magnetiliste omaduste tõttu nagu magnetilise küllastumus, hüsterees ja läbitavus.

Apertuur[muuda | redigeeri lähteteksti]

Uuritavate proovide ettevalmistamine[muuda | redigeeri lähteteksti]

Uuritavate proovide ettevalmistamine transmissioonelekronmikroskoopiaks on üsna pikk ja keeruline protsess. See hõlmab nii materjali ettevalmistamist lõikamiseks, lõikamist ennast kui ka viimasele eelnevat või järgnevat kontrasteerimist (vastab valgusmikroskoopias kasutavale värvimisele), et (raku)struktuure paremini välja tuua. Sõltuvalt uuritavast materjalist ja kasutavast tehnikast tuleb valida antud momendil optimaalne töötlus.

Fikseerimine[muuda | redigeeri lähteteksti]

Preparaat peab olema fikseeritud, et seda oleks üldse võimalik lõigata, ja veetustatud, et vaakumis sealt muidu aurama hakkav vesi proovi lõhki ei kisuks. Fikseerimine käib üsna sarnaselt valgusmikroskoopias kasutatavatele meetoditele ning selleks saab kasutada nii orgaanilisi solvente, ristsidemeid tekitavaid aineid, sisestamist parafiini kui ka külmlõikude tegemist. Viimasena mainitu on nimetatuist parim kuna see muudab uuritavaid struktuure minimaalselt aga see seab ühtlasi tingimuseks, et preparaat ei tohi mingil juhul üles sulada ning seega peab TEM võimaldama preparaadi pidevat jahutamist vedela lämmastikuga.

Vee peal ujuvad umbes 70 nm paksused lõigud, mis on värskelt ultramikrotoomi all lõigatud. Teemantnoa serv paikneb veepiiril. Proov on kinnitatud metallsilindri külge, mis on näha pildi üleval nurgas.

Lõikamine[muuda | redigeeri lähteteksti]

Next.svg Pikemalt artiklis Mikrotoom

50–125 kV kiirenduspinge korral suudavad elektronid läbida kuni 150 nm paksusega lõike aga parema lahutusvõime saamiseks peaks preparaadi paksus olema veelgi väiksem, nii 40–80 nm. Kuigi kohati on isegi võimalik, et uuritav materjal on juba oma olekult nõndavõrd õhuke, et laseb elektrone läbi – seda võib esineda aga ainult materjaliteaduses (nanotorud, pulbrid jms) ning mitte bioloogias ja seetõttu on reeglina vajalik objektide lõikamine soovitud paksusega lõikudeks, mis standardselt on 50–70 nm. See tähendab, et isegi inimese erütrotsüüdist, mis on 6–8 µm läbimõõduga ja 2 µm paks, on võimalik saada kuskil 30–160 lõiku.

Kuna lõigud tulevad äärmiselt õhukesed, peab lõigatav olema spetsiaalselt ette valmistatud. Kohati on vajalik ka enne vastavaid üliõhukesi lõike tegeva ultramikrotoomi kasutamist eelnevalt nõndanimetatud poolpakse lõike (läbimõõduga 0,5–2 mm) teha, et valgusmikroskoobi abil sobiv kohta üliõhukeste lõikude tegemiseks kindlaks määrata.

Ultramikrotoomi all toimub lõiketera edasilükkamine üldiselt kas soojuspaisumise või mehaaniliste meetodite abil ning seda, kui õhukesi lõike on võimalik valmistada, määrab lisaks mikrotoomile ka lõiketera kvaliteet. Parimad on teemantnoad, kuid laialdast kasutust leiavad ka klaasist valmistatud lõiketerad, mis on oluliselt odavamad ning mida saab otse laboris valmistada.

Proovi pinnale laengute tekkimise vältimiseks kaetakse neid vahel üliõhukese, vaid mõne nanomeetrise elektrit juhtiva kihiga, milleks sobib hästi näiteks süsinik. Seda saab teha nii vaakumaurustus kui kihtsadestuse meetodil.[viide?]

Kontrasteerimine[muuda | redigeeri lähteteksti]

Lõik Bacillus subtilis-est. Pildistatud Tecnai T-12 TEM-iga. Mõõtjoone pikkus on 200 nm.
Next.svg Pikemalt artiklis Kontrasteerimine

Bioloogiliste objektide koostised on valdavalt elektrone üsnagi sarnaselt neelavad keemilised elemendid ja see tingib vajaduse parema pildi saamiseks objekte raskemetalli sooladega immutada ehk siis teisisõnu kontrasteerida, mis vastab valgusmikroskoopias kasutatavale värvimisele. Kontrasteerimine võib olla nii positiivne kui negatiivne: esimesel juhul kasvatatakse bioloogilise objekti ja/või tema komponentide võimet elektrone neelata ning teisel juhul suurendatakse hoopis objekti ümbritseva ala elektrontihedust.

Kontrasteerimisel leiavad enim kasutust osmiumtetraoksiid (OsO4), mis suurendab sisemembraanistiku elektrontihedust ning värvib rakkudes paiknevaid lipiide. Palju kasutakse uranüülatsetaati, mis kujutab endast atsetaatvormis uraani soola ja mis "värvib" nukleiinhapeid sisaldavaid struktuure, fosfolipiide ning taimede rakuseinu, ning pliisoolasid, mis suurendavad enamiku rakukomponentide elektrontihedust. Taimerakkude seinte esiletoomiseks leiab kasutust ruteenimpunane, mis kontrasteerib raku pinnal olevaid mukopolüsahhariide. Fosfovolframhapet saab abiks võtta, kui on tarvis kontrasteerida aluselisi valke, glükoproteiide ja polüsahhariide.

Transmissioonelektronmikroskoopiast Eestis[muuda | redigeeri lähteteksti]

Tartu Ülikoolis on kaks transmissioonelektronmikroskoopi, millest vanem saadi 1980ndatel Rootsist ja uuem pärineb 1990ndate algusest. Vanemat kasutatakse loodus- ja tehnoloogiateaduskonnas ning uuemat arstiteaduskonnas. Kavas on LOTE-s kasutatava TEM-i väljavahetamine kaasaegsema vastu.

TEM (mudel EM-125) on olemas ka Tallinna Tehnikaülikooli materjaliuuringute keskuses.[16]

Pilte[muuda | redigeeri lähteteksti]

Vaata ka[muuda | redigeeri lähteteksti]

Viited[muuda | redigeeri lähteteksti]

  1. 1,0 1,1 1,2 Ernst Ruska. Die frühe Entwicklung der Elektronenlinsen und der Elektronenmikroskopie, Halle/Saale : Deutsche Akademie der Naturforscher Leopoldina, 1979.
  2. J. Plücker. Über die Einwirkung des Magneten auf die elektrischen Entladungen in verdünnten Gasen, Poggendorffs Annalen der Physik und Chemie 1858, 103. lk 88–106.
  3. Ferdinand Braun, Nobeli füüsikaauhind 1909. aastal (ingliskeelne biograafia)
  4. 4,0 4,1 4,2 4,3 Ernst Ruska, Nobeli füüsikaauhind 1986. aastal
  5. U. Kallavus: Teravikmikroskoopia
  6. 6,0 6,1 Transmissioonelektronmikroskoopia
  7. Configuration for the enlarged imaging of objects by electron beams 30. mai 1931
  8. Broglie, L. La nouvelle dynamique des quanta, Électrons et Photons: Rapports et Discussions du Cinquième Conseil de Physique. Solvay 1928
  9. Ernst Ruska autobiograafia Nobeli leheküljel
  10. Dr. James Hillier, Biography
  11. Hawkes, P. W. (toim.). The beginnings of Electron Microscopy, Academic Press 1985
  12. Crewe, Albert V; Isaacson, M. and Johnson, D. (1969). A Simple Scanning Electron Microscope, Rev. Sci. Inst. 40, 241–246. doi: 10.1063/1.1683910
  13. Crewe, Albert V.; Wall, J. and Langmore, J. (1970). Visibility of a single atom, Science 168 (3937): 1338–1340. doi: [1] ISSN 0036-8075
  14. The Vacuum System Of a TEM
  15. Jon Orloff, Handbook of Electron Optics. CRC-press 1997. ISBN 0849325137
  16. Keemia- ja materjalitehnoloogia teaduskond: Teadus ja arendustegevus 2006 TTÜ. Lk 100

Kirjandust[muuda | redigeeri lähteteksti]

  • Michael Hopper. Microscopic Techniques in Biotechnology, Weinheim: Whiley-VCH 2003. ISBN 3527301984
  • Ray F. Egerton. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM, New York: Springer 2007. ISBN 0387258000

Välislingid[muuda | redigeeri lähteteksti]

Inglise keeles[muuda | redigeeri lähteteksti]

Kirjandus[muuda | redigeeri lähteteksti]

Eesti keeles[muuda | redigeeri lähteteksti]