Kristallograafia mõisteid
Ilme
Siin on loetletud kristallograafia ning kristallooptikaga seotud mõisteid.
A
[muuda | muuda lähteteksti]E
[muuda | muuda lähteteksti]G
[muuda | muuda lähteteksti]H
[muuda | muuda lähteteksti]- heksagonaalne süngoonia – süngoonia, mille iseloomulikuks tunnuseks on üks kolmandat või kuuendat järku sümmeetriatelg, mis on risti tasandiga, mille moodustavad kolm võrdse pikkusega telge mille vahel on 120° nurk
I
[muuda | muuda lähteteksti]K
[muuda | muuda lähteteksti]- kaksikmurdumine –
- kaksistumine –
- kristall –
- kristalli haabitus –
- kristalli kuju –
- kristalli tahk –
- kristallograafia –
- kristallograafia esimene sead –
- kristallograafiline telg –
- kristallooptika –
- kristallstruktuur –
- kuubiline süngoonia – süngoonia, mille iseloomulikuks tunnuseks on neli kolmandat järku sümmeetriatelge
- käiguvahe –
L
[muuda | muuda lähteteksti]M
[muuda | muuda lähteteksti]O
[muuda | muuda lähteteksti]P
[muuda | muuda lähteteksti]R
[muuda | muuda lähteteksti]S
[muuda | muuda lähteteksti]- SEM –
- Steno seadus –
- sümmeetriaelement –
- sümmeetrialiik –
- sümmeetriaoperatsioon –
- sümmeetriatasand –
- sümmeetriatelg –
- süngoonia – sarnaste sümmeetriaelementide, kristallograafiliste telgede ning nendevaheliste nurkadega kristallide klass
T
[muuda | muuda lähteteksti]- tahk –
- tasandigrupp –
- TEM –
- teodoliitmeetod –
- tetragonaalne süngoonia –
- trigonaalne süngoonia – süngoonia, mida sõltuvalt koolkonnast peetakse kas iseseisvaks süngooniaks või heksagonaalse süngoonia osaks
- trikliinne süngoonia –
- tsonaalne kristall –
- tulpjas eralduvus –
U
[muuda | muuda lähteteksti]V
[muuda | muuda lähteteksti]- vakants –
Ü
[muuda | muuda lähteteksti]- ühikrakk –
X
[muuda | muuda lähteteksti]- XRD –