Fail:Sio2 ühikrakk.PNG: erinevus redaktsioonide vahel
Eemaldatud sisu Lisatud sisu
{{pildiinfo | kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk | kuupäev = 25.01.2020 | allikas = Low-k dielectric materials | autor = D. Shamiryan et al }} |
täpsem info |
||
| 3. rida: | 3. rida: | ||
| kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk |
| kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk |
||
| kuupäev = 25.01.2020 |
| kuupäev = 25.01.2020 |
||
| allikas = Low-k dielectric materials |
| allikas = [https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369702104000537 Low-k dielectric materials], Materials Today. Volume 7, Issue 1, January 2004. Pages 34-39 |
||
| autor = D. Shamiryan et al |
| autor = D. Shamiryan et al, 2004 |
||
}} |
}} |
||
Redaktsioon: 27. jaanuar 2020, kell 09:38
Lühikirjeldus
| Kirjeldus | a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk |
|---|---|
| Kuupäev | 25. jaanuar 2020 |
| Allikas | Low-k dielectric materials, Materials Today. Volume 7, Issue 1, January 2004. Pages 34-39 |
| Autor | D. Shamiryan et al, 2004 |
Faili ajalugu
Klõpsa kuupäeva ja kellaaega, et näha sel ajahetkel kasutusel olnud failiversiooni.
| Kuupäev/kellaaeg | Pisipilt | Mõõtmed | Kasutaja | Kommentaar | |
|---|---|---|---|---|---|
| viimane | 25. jaanuar 2020, kell 02:18 |  | 654 × 398 (170 KB) | Karlmt (arutelu | kaastöö) | {{pildiinfo | kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk | kuupäev = 25.01.2020 | allikas = Low-k dielectric materials | autor = D. Shamiryan et al }} |
Sa ei saa seda faili üle kirjutada.
Faili kasutus
Seda faili kasutab järgmine lehekülg:
