Fail:Silicon dislocation orientation 100 mag 500x.png
Silicon_dislocation_orientation_100_mag_500x.png (768 × 576 pikslit, faili suurus: 658 KB, MIME tüüp: image/png)
Faili ajalugu
Klõpsa kuupäeva ja kellaaega, et näha sel ajahetkel kasutusel olnud failiversiooni.
Kuupäev/kellaaeg | Pisipilt | Mõõtmed | Kasutaja | Kommentaar | |
---|---|---|---|---|---|
viimane | 13. september 2005, kell 03:12 | 768 × 576 (658 KB) | Twisp | * Title: Dislocations in Si crystal, orientation 100 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the elliptical shape of dislocations. * Author: Twisp * D |
Faili kasutus
Seda faili kasutab järgmine lehekülg:
Globaalne failikasutus
Järgmised muud vikid kasutavad seda faili:
- Faili kasutus vikis fa.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis fr.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis he.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis hu.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis zh.wikipedia.org