Fail:Külgvaade lamellist.jpg

Selle lehekülje sisule puudub teiste keelte tugi.
Klõps ikoonil viib faili leheküljele Wikimedia Commonsis.
Allikas: Vikipeedia

Algfail(1024 × 883 pikslit, faili suurus: 236 KB, MIME tüüp: image/jpeg)

Lühikirjeldus

Kirjeldus
Eesti: Antud pildil on näha vaheetappi läbivalgustava elektronmikroskoobi proovi valmistamisest. Vaatlemaks objekte läbivalgustava elektronmikroskoobi all, peab vaadeldav objekt olema paarikümne nanomeetri paksune. Selle saavutamiseks lõigatakse esmalt uuritavast objektist ioonkiire abil välja paari mikromeetri paksune ja paarikümne mikromeetri laiune lamell. See lamell kinnitatakse imepisikese "nõela" otsa, lõigatakse aluse küljest lahti ning liigutatakse siis vaskalusele, mille külge kinnitatakse see sadestades plaatinakontaktid (pildil nähtavad "lainelised" ruudud) vaskaluse ning proovi vahele.

Antud pildil on näha viimane etapp proovi ettevalmistusest - lamelli poleerimine/õhemaks lõikamine. Saavutamaks läbivalgustavas mikroskoobis vaadeldav lamell õhendatakse seda alguses mõne mikromeetri ning lõpuks paari nanomeetri kaupa, alandades lõikava ioonkiire pinget ja voolutugevust, kuni algsest välja lõigatud mõne mikromeetri paksusest tükist jääb alles vaid mõnekümne nanomeetri paksune lõik. Lamelli all on näha ioonkiire poolt vaskalusesse lõigatud vaod. Kogu protsess ühe taolise lamelli valmistamiseks võtab keskmiselt aega 6-8 tundi.

Antud proovi näol on tegemist ränialusega, millele on sadestatud titaannitriidi elektrood, selle peale hafniumdioksiidi dielektrik-kiht ning sellele omakorda titaanist teine elektrood. Ioonkiirega proovi pealmiste kihtide kahjustamise vältimiseks on kõige peale sadestatud kiht plaatina. Kõiki sadestatud kihte pole antud pildil võimalik näha, kuna nende paksused on kohati vaid 15 nm. Nende vaatlemiseks ja karakteriseerimiseks ongi vajalik proovide uurimine läbivalgustavad elektronmikroskoobi abil. Foto on tehtud kasutades skaneerivat elektronmikroskoopi Tartu Ülikooli kiletehnoloogia laboris.
English: Image of a sample being prepared for viewing with a transmission electron microscope. Image taken with a scanning electron microscope.
Kuupäev
Allikas Üleslaadija oma töö
Autor Markus Otsus

Litsents

Autoriõiguse omanikuna avaldan selle teose järgmise litsentsi all:
w:et:Creative Commons
omistamine
See fail kuulub Creative Commonsi rahvusvahelise litsentsi "Autorile viitamine 4.0" alla.
Tohid:
  • jagada – teost kopeerida, levitada ja edastada
  • kohandada – valmistada muudetud teoseid
Järgmistel tingimustel:
  • omistamine – Pead materjali sobival viisil autorile omistama, tooma ära litsentsi lingi ja märkima ära, kas on tehtud muudatusi. Sobib, kui teed seda mõistlikul viisil, kuid seejuures ei tohi jääda muljet, et litsentsiandja tõstab esile sind või seda, et sina materjali kasutad.


Pealdised

Skaneeriva elektronmikroskoobi pilt prooviobjektist, mida valmistatakse ette läbivalgustavas elektronmikroskoobis vaatlemiseks

Selles failis kujutatud üksused

kujutab

MIME type inglise

image/jpeg

Faili ajalugu

Klõpsa kuupäeva ja kellaaega, et näha sel ajahetkel kasutusel olnud failiversiooni.

Kuupäev/kellaaegPisipiltMõõtmedKasutajaKommentaar
viimane13. detsember 2021, kell 14:40Pisipilt versioonist seisuga 13. detsember 2021, kell 14:401024 × 883 (236 KB)M.OtsusUploaded own work with UploadWizard

Seda faili kasutavad järgmised 2 lehekülge:

Metaandmed