X-ühik

x-ühik (tähis X, ka: xu) ehk siigbaan on mittesüsteemne pikkusühik, mida alates 1920ndatest kasutati röntgenikiirguse ja gammakiirguse lainepikkuse väljendamiseks ning kristallivõre konstantide avaldamiseks.

Ühiku defineeris 1925 rootsi füüsik Karl Manne Georg Siegbahn kaltsiidi kristallipindade vahelise kauguse kaudu 18 °C juures. Selle kauguse kõige täpsem hinnang oli tollal 302,945 pm. See kaugus loeti täpselt võrdseks 3029,45 X-ga, nii et x-ühiku ligikaudseks väärtuseks tuli 0,1 pm.

Hiljem selgus, et 1 X · 1,00206 10^-13 = 0,10026 pm = 100,206 fm.

Aastal 1965 hakati x-ühiku asemel kasutama ongströmit (Å), mis võrdub 100 pikomeetri ehk 0,1 nanomeetriga.

On defineeritud ka vase x-ühik ja molübdeeni x-ühik.

Vase x-ühiku (xu(CuKα1)) puhul loeti vase Kα1-spektrijoone lainepikkuseks täpselt 1537,400 x-ühikut. See andis x-ühiku väärtuseks 1,00207789×10^-13 ± 7,0×10^-20 m.

Molübdeeni x-ühiku (xu(CuKα1)) puhul loeti molübdeeni Kα1-spektrijoone lainepikkuseks täpselt 707,831 x-ühikut. See andis x-ühiku väärtuseks 1,00209938×10^-13 ± 4,5×10^-20 m.