Kasutaja:Karl2707/reflektomeetria

Reflektomeetria on mitteinsvasiivne moodus keskkondade ja pindade uurimiseks. Enamasti kasutatakse mõõtmiste läbiviimiseks elektromagnetlaineid, kuid kasutatakse ka helilaineid.

Peegeldumine

Keskkonnalt tagasipeegeldunud laine.

Kahe homogeense keskkonna piirpinnale langenud tasalaine jaguneb kaheks: osa lainest levib teisse keskkonda edasi ning osa sellest peegeldub tagasi. Läbinud ja tagasipeegeldunud lainete amplituudide suhe on määratud langemisnurga ning laine levimise kiiruste erinevustega keskkondades.

Valguslaine korral 0 kraadise langemise korral tagasipeegelduva valguse koefitsient

$R={\biggr (}{\frac {n_{1}-n_{2}}{n_{1}+n_{2}}}{\biggr )}^{2}$,

kus ${\textstyle n_{1}}$ on murdumisnäitaja esimeses keskkonnas ja ${\textstyle n_{2}}$ teises keskkonnas.

Läbiva valguse koefitsient on

$T={\frac {4n_{1}n_{2}}{(n_{1}+n_{2})^{2}}}$.

Tulenevalt energia jäävuse seadusest

$T+R=1$.

Peegeldumisel suurema murdumisnäitajaga keskkonnalt tekib tagasipeegeldunud lainele faasivahe.

Liigid

Sagedusesitus

Peamiselt kasutuses optilises reflektomeetrias. Objektilt tagasipeegeldunud valgus suunatakse spektromeetrisse. Väljundis saadakse tagasipeegeldunud valguse komponentide intensiivused. Võrreldes esialgse valgusega on võimalik määrata, millised lainepikkused on peegeldumise käigus kas aines neeldunud või erinevatelt pindadelt tuleneva interferentsi tõttu kustutatud.

• optical coherence-domain reflectometry

Rakendused

Reflektomeetriat kasutatakse mitmetes valdkondades:

• radar - kaugus õhusõidukini määratakse tagasipeegeldunud lainete jõudmise aja kaudu;
• ultraheli uuring - elusorganismide sisse vaatamine
• kaablite diagnostika - vigasest kohast kaablis peegeldub signaal tagasi, mõõtes ära aja saab määrata vea täpse asukoha. Kuna kõikidel defektidel on kindel signatuur on võimalik teada saada, milles seisneb probleem.
• niiskuse määramine -